Ieee Electron Device Letters杂志简介
Ieee Electron Device Letters是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主办的工程技术领域的专业学术期刊,自1980年创刊以来,一直以高质量的内容赢得业界的尊重。该期刊拥有正式的刊号(ISSN:0741-3106,E-ISSN:1558-0563),出版周期Monthly,其出版地区设在UNITED STATES。该期刊的核心使命旨在推动工程技术专业及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC学科界的教育研究与实践经验的交流,发表同行有创见的学术论文,提倡学术争鸣,激发学术创新,开展国际间学术交流,为工程技术领域的发展注入活力。
该期刊文章自引率0.1020...,开源内容占比0.057,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,读者群体主要包括工程技术的专业人员,研究生、本科生以及工程技术领域爱好者,这些读者群体来自全球各地,具有广泛的学术背景和兴趣。Ieee Electron Device Letters已被国际权威学术数据库“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收录,方便全球范围内的学者和研究人员检索和引用,有助于推动ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC领域的研究进展和创新发展。
CiteScore(2024年最新版)
- CiteScore:8.2
- SJR:1.25
- SNIP:1.5
学科类别 |
分区 |
排名 |
百分位 |
大类:Engineering
小类:Electrical and Electronic Engineering
|
Q1
|
128 / 797
|
|
大类:Engineering
小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials
|
Q1
|
51 / 284
|
|
CiteScore: 这一创新指标力求提供更为全面且精确的期刊评估,打破了过去仅依赖单一指标如影响因子的局限。它通过综合广泛的引用数据,跨越多个学科领域,从而确保了更高的透明度和开放性。作为Scopus中一系列期刊指标的重要组成部分,包括SNIP(源文档标准化影响)、SJR(SCImago杂志排名)、引用文档计数以及引用百分比。Scopus整合以上指标,帮助研究者深入了解超过22,220种论著的引用情况。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各个指标的详细信息。
Ieee Electron Device Letters中科院分区表
中科院分区 2023年12月升级版
大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
工程技术 |
2区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
|
2区
|
否 |
否 |
中科院分区 2022年12月升级版
大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
工程技术 |
2区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
|
2区
|
否 |
否 |
中科院分区 2021年12月旧的升级版
大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
工程技术 |
2区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
|
2区
|
否 |
否 |
中科院分区 2021年12月基础版
大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
工程技术 |
2区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
|
2区
|
否 |
否 |
中科院分区 2021年12月升级版
大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
工程技术 |
2区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
|
2区
|
否 |
否 |
中科院分区 2020年12月旧的升级版
大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
工程技术 |
2区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:电子与电气
|
2区
|
否 |
否 |
WOS期刊JCR分区(2023-2024年最新版)
按JIF指标学科分区 |
收录子集 |
分区 |
排名 |
百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
SCIE |
Q2 |
94 / 352 |
|
按JCI指标学科分区 |
收录子集 |
分区 |
排名 |
百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
SCIE |
Q1 |
77 / 354 |
|
JCR(Journal Citation Reports)分区,也被称为JCR期刊分区,是由汤森路透公司(现在属于科睿唯安公司)制定的一种国际通用和公认的期刊分区标准。JCR分区基于SCI数据库,按照期刊的影响因子进行排序,按照类似等分的方式将期刊划分为四个区:Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分区的标准与中科院JCR期刊分区(又称分区表、分区数据)存在不同之处。例如,两者的分区数量不同,JCR分为四个区,而中科院分区则分为176个学科,每个学科又按照影响因子高低分为四个区。此外,两者的影响因子取值范围也存在差异。
历年发文数据
年份 |
年发文量 |
2014 |
393 |
2015 |
402 |
2016 |
394 |
2017 |
419 |
2018 |
448 |
2019 |
459 |
2020 |
417 |
2021 |
429 |
2022 |
522 |
2023 |
477 |
期刊互引关系
被他刊引用情况 |
期刊名称 |
引用次数 |
IEEE T ELECTRON DEV |
1587 |
IEEE ELECTR DEVICE L |
1317 |
JPN J APPL PHYS |
594 |
APPL PHYS LETT |
460 |
IEEE J ELECTRON DEVI |
445 |
APPL PHYS EXPRESS |
366 |
SEMICOND SCI TECH |
277 |
J APPL PHYS |
268 |
SOLID STATE ELECTRON |
257 |
ECS J SOLID STATE SC |
249 |
引用他刊情况 |
期刊名称 |
引用次数 |
IEEE ELECTR DEVICE L |
1317 |
IEEE T ELECTRON DEV |
865 |
APPL PHYS LETT |
812 |
J APPL PHYS |
318 |
ADV MATER |
217 |
NANO LETT |
150 |
ACS APPL MATER INTER |
142 |
SCI REP-UK |
138 |
NATURE |
132 |
APPL PHYS EXPRESS |
119 |
若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。