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Journal Of Electronic Imaging

电子影像杂志
国际简称:J ELECTRON IMAGING

Journal Of Electronic Imaging

SCIE

按杂志级别划分: 中科院1区 中科院2区 中科院3区 中科院4区

  • 4区 中科院分区
  • Q4 JCR分区
  • 316 年发文量
  • 98.10% 研究类文章占比
  • 3.76% Gold OA文章占比
ISSN:1017-9909
创刊时间:1992
是否预警:否
E-ISSN:1560-229X
出版地区:UNITED STATES
是否OA:未开放
出版语言:English
出版周期:Quarterly
影响因子:1
出版商:SPIE
审稿周期: 约4.0个月
CiteScore:1.7
H-index:60
出版撤稿文章占比:0.0078...
开源占比:0.0325
文章自引率:0.2727...

Journal Of Electronic Imaging杂志简介

Journal Of Electronic Imaging是由SPIE出版商主办的计算机科学领域的专业学术期刊,自1992年创刊以来,一直以高质量的内容赢得业界的尊重。该期刊拥有正式的刊号(ISSN:1017-9909,E-ISSN:1560-229X),出版周期Quarterly,其出版地区设在UNITED STATES。该期刊的核心使命旨在推动计算机科学专业及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC学科界的教育研究与实践经验的交流,发表同行有创见的学术论文,提倡学术争鸣,激发学术创新,开展国际间学术交流,为计算机科学领域的发展注入活力。

该期刊文章自引率0.2727...,开源内容占比0.0325,出版撤稿占比0.0078...,OA被引用占比0.0554...,读者群体主要包括计算机科学的专业人员,研究生、本科生以及计算机科学领域爱好者,这些读者群体来自全球各地,具有广泛的学术背景和兴趣。Journal Of Electronic Imaging已被国际权威学术数据库“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收录,方便全球范围内的学者和研究人员检索和引用,有助于推动ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC领域的研究进展和创新发展。

CiteScore(2024年最新版)

  • CiteScore:1.7
  • SJR:0.264
  • SNIP:0.357
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大类:Engineering 小类:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

CiteScore: 这一创新指标力求提供更为全面且精确的期刊评估,打破了过去仅依赖单一指标如影响因子的局限。它通过综合广泛的引用数据,跨越多个学科领域,从而确保了更高的透明度和开放性。作为Scopus中一系列期刊指标的重要组成部分,包括SNIP(源文档标准化影响)、SJR(SCImago杂志排名)、引用文档计数以及引用百分比。Scopus整合以上指标,帮助研究者深入了解超过22,220种论著的引用情况。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各个指标的详细信息。

CiteScore分区值与影响因子值数据对比

Journal Of Electronic Imaging中科院分区表

中科院分区 2023年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区 2022年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区 2021年12月旧的升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区 2021年12月基础版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区 2021年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区 2020年12月旧的升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区表历年分布趋势图

WOS期刊JCR分区(2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

学科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

学科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

JCR(Journal Citation Reports)分区,也被称为JCR期刊分区,是由汤森路透公司(现在属于科睿唯安公司)制定的一种国际通用和公认的期刊分区标准。JCR分区基于SCI数据库,按照期刊的影响因子进行排序,按照类似等分的方式将期刊划分为四个区:Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分区的标准与中科院JCR期刊分区(又称分区表、分区数据)存在不同之处。例如,两者的分区数量不同,JCR分为四个区,而中科院分区则分为176个学科,每个学科又按照影响因子高低分为四个区。此外,两者的影响因子取值范围也存在差异。

历年发文数据

年份 年发文量
2014 168
2015 190
2016 186
2017 224
2018 302
2019 227
2020 147
2021 203
2022 358
2023 316

期刊互引关系

被他刊引用情况
期刊名称 引用次数
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26
引用他刊情况
期刊名称 引用次数
IEEE T IMAGE PROCESS 573
IEEE T PATTERN ANAL 435
J ELECTRON IMAGING 163
PATTERN RECOGN 159
INT J COMPUT VISION 153
NEUROCOMPUTING 118
IEEE T CIRC SYST VID 105
ACM T GRAPHIC 74
MULTIMED TOOLS APPL 74
PATTERN RECOGN LETT 73
若用户需要出版服务,请联系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。