Ieee Transactions On Device And Materials Reliability

Ieee Transactions On Device And Materials Reliability杂志简介

Ieee Transactions On Device And Materials Reliability是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主办的工程技术领域的专业学术期刊，自2001年创刊以来，一直以高质量的内容赢得业界的尊重。该期刊拥有正式的刊号（ISSN：1530-4388，E-ISSN：1558-2574），出版周期Quarterly，其出版地区设在UNITED STATES。该期刊的核心使命旨在推动工程技术专业及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC学科界的教育研究与实践经验的交流，发表同行有创见的学术论文，提倡学术争鸣，激发学术创新，开展国际间学术交流，为工程技术领域的发展注入活力。

该期刊文章自引率0.05，开源内容占比0.057，出版撤稿占比0，OA被引用占比0，读者群体主要包括工程技术的专业人员，研究生、本科生以及工程技术领域爱好者，这些读者群体来自全球各地，具有广泛的学术背景和兴趣。Ieee Transactions On Device And Materials Reliability已被国际权威学术数据库“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收录，方便全球范围内的学者和研究人员检索和引用，有助于推动ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC领域的研究进展和创新发展。