Journal Of Electronic Testing-theory And Applications杂志简介
Journal Of Electronic Testing-theory And Applications是由Springer US出版商主办的工程技术领域的专业学术期刊，自1990年创刊以来，一直以高质量的内容赢得业界的尊重。该期刊拥有正式的刊号（ISSN：0923-8174，E-ISSN：1573-0727），出版周期Bimonthly，其出版地区设在UNITED STATES。该期刊的核心使命旨在推动工程技术专业及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC学科界的教育研究与实践经验的交流，发表同行有创见的学术论文，提倡学术争鸣，激发学术创新，开展国际间学术交流，为工程技术领域的发展注入活力。
该期刊文章自引率0.1111...，开源内容占比0.047，出版撤稿占比0，OA被引用占比0.0092...，读者群体主要包括工程技术的专业人员，研究生、本科生以及工程技术领域爱好者，这些读者群体来自全球各地，具有广泛的学术背景和兴趣。Journal Of Electronic Testing-theory And Applications已被国际权威学术数据库“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收录，方便全球范围内的学者和研究人员检索和引用，有助于推动ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC领域的研究进展和创新发展。
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：2
- SJR：0.271
- SNIP：0.518
| 学科类别 |
分区 |
排名 |
百分位 |
|
大类：Engineering
小类：Electrical and Electronic Engineering
|
Q3
|
495 / 797
|
|
CiteScore: 这一创新指标力求提供更为全面且精确的期刊评估，打破了过去仅依赖单一指标如影响因子的局限。它通过综合广泛的引用数据，跨越多个学科领域，从而确保了更高的透明度和开放性。作为Scopus中一系列期刊指标的重要组成部分，包括SNIP（源文档标准化影响）、SJR（SCImago杂志排名）、引用文档计数以及引用百分比。Scopus整合以上指标，帮助研究者深入了解超过22,220种论著的引用情况。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各个指标的详细信息。
Journal Of Electronic Testing-theory And Applications中科院分区表
中科院分区 2023年12月升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
|
4区
|
否 |
否 |
中科院分区 2022年12月升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
|
4区
|
否 |
否 |
中科院分区 2021年12月旧的升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
|
4区
|
否 |
否 |
中科院分区 2021年12月基础版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
|
4区
|
否 |
否 |
中科院分区 2021年12月升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
|
4区
|
否 |
否 |
中科院分区 2020年12月旧的升级版
| 大类学科 |
分区 |
小类学科 |
分区 |
Top期刊 |
综述期刊 |
| 工程技术 |
4区 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
|
4区
|
否 |
否 |
WOS期刊JCR分区（2023-2024年最新版）
| 按JIF指标学科分区 |
收录子集 |
分区 |
排名 |
百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
SCIE |
Q4 |
278 / 352 |
|
| 按JCI指标学科分区 |
收录子集 |
分区 |
排名 |
百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
SCIE |
Q4 |
293 / 354 |
|
JCR（Journal Citation Reports）分区，也被称为JCR期刊分区，是由汤森路透公司（现在属于科睿唯安公司）制定的一种国际通用和公认的期刊分区标准。JCR分区基于SCI数据库，按照期刊的影响因子进行排序，按照类似等分的方式将期刊划分为四个区：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分区的标准与中科院JCR期刊分区（又称分区表、分区数据）存在不同之处。例如，两者的分区数量不同，JCR分为四个区，而中科院分区则分为176个学科，每个学科又按照影响因子高低分为四个区。此外，两者的影响因子取值范围也存在差异。
历年发文数据
| 年份 |
年发文量 |
| 2014 |
58 |
| 2015 |
44 |
| 2016 |
57 |
| 2017 |
55 |
| 2018 |
54 |
| 2019 |
62 |
| 2020 |
55 |
| 2021 |
47 |
| 2022 |
46 |
| 2023 |
43 |
期刊互引关系
| 被他刊引用情况 |
| 期刊名称 |
引用次数 |
| J ELECTRON TEST |
30 |
| IEEE ACCESS |
21 |
| IEEE T COMPUT AID D |
16 |
| ANALOG INTEGR CIRC S |
11 |
| IEEE T VLSI SYST |
10 |
| IET COMPUT DIGIT TEC |
9 |
| MICROELECTRON J |
9 |
| SENSORS-BASEL |
9 |
| MICROELECTRON RELIAB |
8 |
| INTEGRATION |
7 |
| 引用他刊情况 |
| 期刊名称 |
引用次数 |
| IEEE T COMPUT AID D |
62 |
| IEEE T VLSI SYST |
58 |
| IEEE T COMPUT |
35 |
| IEEE T NUCL SCI |
34 |
| J ELECTRON TEST |
30 |
| IEEE DES TEST |
29 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC |
29 |
| IEEE T MICROW THEORY |
21 |
| MICROELECTRON RELIAB |
19 |
| IEEE T CIRCUITS-I |
15 |
若用户需要出版服务，请联系出版商：SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ。
